【連網(wǎng)】近日，市質(zhì)量技術(shù)綜合檢驗檢測中心（國家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心）主持制定的國家標準GB/T36655-2018《電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的測試方法XRD法》正式發(fā)布。該標準的發(fā)布填補了電子封裝用球形二氧化硅微粉檢驗領(lǐng)域的空白，為測試球形二氧化硅微粉中晶體二氧化硅含量提供了方法依據(jù)，解決了一直以來困擾行業(yè)的檢測方法無法統(tǒng)一的難題。
近年來，市質(zhì)檢中心先后主持制修訂國家標準4項、行業(yè)標準9項、地方標準2項，在做好檢驗檢測工作的同時，注重發(fā)揮技術(shù)優(yōu)勢，以標準化戰(zhàn)略為先導(dǎo)帶動產(chǎn)業(yè)提升，服務(wù)港城高質(zhì)發(fā)展。